介紹：

高溫電壽命試驗(yàn)是一種專門用于評估電子元件、電路板或整個電子設(shè)備在高溫環(huán)境下長期通電運(yùn)行時(shí)的可靠性和耐久性的測試方法。這種試驗(yàn)通過在高于正常工作溫度的條件下對樣品進(jìn)行持續(xù)供電和操作，模擬產(chǎn)品在其使用壽命期間可能遇到的實(shí)際工況，以檢測其在這些條件下的性能穩(wěn)定性和預(yù)期壽命。

測試服務(wù)介紹：

只測：

① 最高溫度：700℃，最大工作容積：750px×500px×300px

② 最高溫度：250℃，最大工作容積：1500px×1625px×1750px

③ 最高溫度：150℃，最大工作容積：2500px×2500px×2450px